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  MB 2 S-E, Senkrecht-Prüfkopf 2 MHz

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  MB 4 F-E Straight Beam Probe, 4 MHz, Fingertip

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  MB 4 S-E Straight Beam Probe, 4 MHz

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  MB 4 S-E, Senkrecht-Prüfkopf 4 MHz

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  MB4 F-E, Fingertip-Prüfkopf 4 MHz

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  Messkeil aus gehärtetem Stahl zur Ermittlung von Spaltmaßen und Stegabständen, Messbereich 0,5 – 11 mm

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  Messkeil aus gehärtetem Stahl, zur Ermittlung von Spaltmaßen und Stegabständen, Messbereich 0,5 – 11 mm

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  Meßlupe, 10-fach, 1/10mm Teilung, fokussierbar, Glaslinse Antireflex

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  Meßlupe, 7-fach, 1/10mm Teilung, fokussierbar

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  Meßlupe, 7-fach, DAkkS-kalibrierte Ausführung, 1/10mm Teilung, fokussierbar

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  Messonde EGAB1.3-FE für ältere Geräte, # 602-221

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  Messonde EGABI1.3-150-FE für ältere Geräte, # 602-706

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  Messonde EGABI1.3-260-Fe, # 602-392

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  Messonde EGBW2, # 602-024

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  Messonde F20H, # 604-535

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  Messonde FAW 3.3, # 604-293

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  Messonde FD13H, # 604-508

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  Messonde FDX13H, # 604-596